Регистрация на дополнительную образовательную программу СПбГУ
Применение двулучевых станций "сфокусированный ионный пучок – сканирующий электронный микроскоп" для проведения исследований в области нанотехнологий и материаловедения

Обучение по дополнительным образовательным программам повышения квалификации Научного парка СПбГУ

(полное название организации)
* — поля обязательны для заполнения